高速远心测量系统能够在无需停止生产线的情况下，瞬间捕捉移动目标的投影图像，从而在多个位置进行尺寸测量，大大缩短了检测处理时间。

高强度绿色LED光源、远心光学系统和高灵敏度CMOS，使TM-X5000 系列能够在无需停止高速移动目标的情况下，从清晰的轮廓中准确测量尺寸。多样化的测量工具可以组合使用，支持多个测量点和多种检测项目。实现全检且不会影响处理时间，这是仅限离线测量系统难以实现的。

在在线使用远心测量系统时，由于移动目标的偏移，投影图像常常会变得模糊或失焦。大景深有效支持解决这一问题，使系统能够通过捕捉清晰的边缘图像实现稳定测量，无需对目标位置进行大幅调整。

发射器和接收器均采用远心光学系统，使TM-X5000 系列远心测量系统能够捕捉真实的边缘图像。即使目标物体偏移，也能以±15 mm（0.59英寸）的最大景深实现一致的高精度成像。低畸变镜头融合黄金城创新算法，大幅降低对目标位置调整和光照等因素校准的需求。因此，可以在误差发生前规避因偏移导致的测量误差和后续的良品率下降。

通过外径测量系统，可以对线状、棒状和带状目标（如电线、挤出成型产品和薄片）进行连续的在线尺寸测量。持续曝光实现了不间断测量，大幅降低漏检和不良品发生的状况。

外径测量系统可以实现连续测量。为了降低漏检和漏判缺陷风险，稳定的测量起着关键作用。采用激光扫描系统的穿透式光学测微计，在微小目标上可能会出现漏检，因为当目标离开扫描线路径时，变化无法被检测到。为了解决这个问题，LS-9000 系列和LS-7000 系列高速高精度数字测微计配备了高强度绿色LED光源，并在曝光时间内对整个视野进行测量。有效减少了临时数值变化或检查的遗漏，实现了更精确的测量。

长时间连续运行焊接机器人会导致电极尖端的轮廓（角度或弯曲）发生变形，从而导致焊接失败。在焊接机器人工作间内安装TM-X5000 系列远心测量系统。考虑到电极尖端所承受的负载，每连续焊接50次时，增加一个动作，使电极尖端通过TM-X5000 系列的透射光。即使目标在移动，TM-X5000 系列也能以清晰的图像测量轮廓，因此能够准确捕捉电极轮廓的变化，防止焊接失败，同时有效减少对加工时间的影响。除了焊接设备外，该系统还可应用于各种机器人和自动化设备工具的轮廓检测。

喷油器由多个部件组装而成，因此检测时需要在多个位置测量外径。常规的外径测量系统安装成本高，并且由于需要安装多个设备或移动测量系统来测量所有点，导致检测处理时间增加。此外，为了保证测量系统的精度，要求对移动机构进行维护，这需要耗费时间和精力。远心测量系统可以在视野范围内瞬间测量多个点的外径，并且能够同时检测同轴度等多个项目。

玻璃基板的对准需要高精度，常规情况下需要由视觉系统来实现。然而，透明目标的定位较为困难，为了在保持高精度的同时提高处理速度，往往需要复杂的预对准和校准。LS-9000 系列高速光学测微仪除了具备两级边缘检测阈值设定外，还提供了透明目标的测量模式，即使在处理薄玻璃基板的边缘轮廓时，也能实现简单应用下的稳定测量和定位。

TM-X5000 系列远心测量系统的曝光时间仅为100微秒（0.1毫秒），能够在无需停止高速生产线的情况下，快速捕捉清晰的二维投影图像，一次性同时测量多达100个项目。系统提供100多种多样化的工具。这些工具可以组合使用，实现复杂轮廓的外径、宽度、高度和半径的批量测量，以及例如通过在线捕获的投影图像，对多个螺纹的螺距、高度、角度等进行测量。

TM-X5000 系列远心测量系统操作直观，用户只需选择图标即可组合基本工具、元素工具、辅助工具、应用工具和GD&T工具，设置所需的测量项目。在GD&T工具中，可以选择以下项目，并与其他工具组合，用于对各种图纸指示进行在线检测：

- 形状公差:直线度和圆度
- 方向公差:垂直度和平行度
- 位置公差:同心度

支持在线检测所需的多种测量，包括用于产品识别的主件比对和用于外观检测的异物距离测量。

LS-9000 系列高速光学测微计标配有气体吹扫装置，具备符合IP67标准的耐环境设计。该产品对蒸汽、粉尘、油类、雾气等污染物、冲击和温度变化具有很高的耐受性，即使在恶劣环境下也能实现稳定的外径测量。安装在各种工序后，可持续进行持续稳定的曝光测量，实现实时识别和及时处理异常。由于可在工序中进行测量，有效避免大量不良品在后续检测中被发现，从而提升了各类环境下的良品率。

光学和激光测微计以高精度著称，LS-9000 系列可检测最小0.08毫米（80微米）的物体，精度达到±2微米。在大多数情况下，高级光学和激光测微计的精度通常在微米级，范围为0.1微米至10微米。这种高精度使光学和激光测微计在半导体制造、精密工程等对精确测量有严格要求的行业中颇具价值。

虽然这两种系统都用于精密测量，但它们在操作原理和应用上有根本性的不同。光学测微计使用激光光源来测量特定物体。光线被投射到被测物体上，物体的阴影或轮廓被投射到光接收器上；阴影的大小就是测量的依据。因此，光学和激光测微计能够提供快速且高度精确的测量。
另一方面，背光视觉系统依靠背光来照亮物体，从而形成清晰的轮廓。但与使用接收器收集数据并进行处理不同，背光视觉系统中的轮廓是由摄像头捕捉的，然后通过软件处理图像来测量物体。不可否认，这些系统非常适合测量复杂的二维尺寸或用于质量控制，但与光学测微计相比，它们的速度明显较慢，精度也较低。

这两种设备都属于激光测量产品系列，但各自有其独特的优势。激光测微计通常更快，因为它们可以在一次扫描或拍摄中测量物体的整个轮廓。这使得它们非常适合对速度要求高的在线工艺流程。而激光扫描测微计则依靠移动的激光束在物体上移动并进行扫描。这方面有一个优势，因为激光扫描能够提供详细的轮廓测量，特别是在扫描复杂几何形状和精细表面时。但与在线激光测微计相比，它们的速度明显较慢，并且由于有移动部件，需要维护和保养。

光学测微计具有很强的多功能性，能够测量各种各样的物体。这包括圆柱形物体，如电线、棒材和管材，也包括透明和不透明的物体，如玻璃或金属板。还可以测量电子元件、半导体材料、光纤以及其他需要采用非接触式测量方法以防止工件损坏或污染的材料。不过，尽管光学测微计可测量的材料种类繁多，仍需确保被测物体的尺寸在测微计的测量范围之内。